積體電路設計是近年來熱門話題，半導體產品廣範的被人使用，本書作者以基礎測試觀念將重點整理出來。



　　本書第一章為了積體電路測試的簡介，介紹基本配備及觀念。第二章IC特性與規格介紹，介紹邏輯元件的電性。第三章DC參數測試，介紹高阻抗電流、開路/短路測試及故障排除。第四章功能測試。第五章資料分析，含晶片地圖、統計製程(SPC)。第六章測試經濟學，介紹成本、產能。附錄整理出詞彙並附有解釋。



　　本書適合大學、科大電子、電機、資工系「積體電路測試」課程。



本書特色



　　1.介紹積體電路基本測試方法。

　　2.設計實驗流程，幫助初學者快速了解實驗。

　　3.介紹測試資料分析方法。

　　4.配合教育部重點發展計畫內容。