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積體電路測試實務
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9789572157749
廖裕評、陸瑞強
全華科技
2007年5月08日
280.00 元
HK$ 266
詳
細
資
料
* 規格：平裝 / 216頁 / 19.0*21.0 cm / 普級 / 單色印刷 / 初版
* 出版地：台灣
分
類
專業/教科書/政府出版品
>
電機資訊類
>
電子
同
類
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內
容
簡
介
積體電路設計是近年來熱門話題，半導體產品廣範的被人使用，本書作者以基礎測試觀念將重點整理出來。本書第一章為了積體電路測試的簡介，介紹基本配備及觀念。第二章IC特性與規格介紹，介紹邏輯元件的電性。第三章DC參數測試，介紹高阻抗電流、開路/短路測試及故障排除。第四章功能測試。第五章資料分析，含晶片地圖、統計製程(SPC)。第六章測試經濟學，介紹成本、產能。附錄整理出詞彙並附有解釋。本書適合私立大學科大電子、電機、資工系「積體電路測試」課程。
本書特色
★1 . 介紹積體電路基本測試方法。
★2 . 設計實驗流程，幫助初學者快速了解實驗。
★3 . 介紹測試資料分析方法。
★4 . 配合教育部重點發展計畫內容。
目
錄
第1章 積體電路測試簡介
第2章 IC特性與規格介紹
第3章 DC參數測試
第4章 功能測試
第5章 資料分析
第 6章 測試經濟學
附 錄 詞彙解釋
書
評
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