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積體電路測試實務(第二版)

積體電路測試實務(第二版)

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9789864635153
廖裕評,陸瑞強
全華圖書
2017年4月26日
100.00  元
HK$ 90
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ISBN:9789864635153
  • 叢書系列:大專電子
  • 規格:平裝 / 216頁 / 15.9 x 27.2 cm / 普通級 / 單色印刷 / 二版
  • 出版地:台灣
    大專電子


  • 專業/教科書/政府出版品 > 電機資訊類 > 電子











      積體電路設計是近年來熱門話題,半導體產品廣範的被人使用,本書作者以基礎測試觀念將重點整理出來。



      本書第一章為了積體電路測試的簡介,介紹基本配備及觀念。第二章IC特性與規格介紹,介紹邏輯元件的電性。第三章DC參數測試,介紹高阻抗電流、開路/短路測試及故障排除。第四章功能測試。第五章資料分析,含晶片地圖、統計製程(SPC)。第六章測試經濟學,介紹成本、產能。附錄整理出詞彙並附有解釋。



      本書適合大學、科大電子、電機、資工系「積體電路測試」課程。



    本書特色



      1.介紹積體電路基本測試方法。

      2.設計實驗流程,幫助初學者快速了解實驗。

      3.介紹測試資料分析方法。

      4.配合教育部重點發展計畫內容。


     





    第1章 積體電路測試簡介

    第2章 IC特性與規格介紹

    第3章 DC參數測試

    第4章 功能測試

    第5章 資料分析

    第6章 測試經濟學

    附 錄 詞彙解釋




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