序
Amos為圖形操作介面，不需撰寫程式即能執行SEM分析，受到廣大研究者的喜愛。本版Amos應用專書秉持著「推陳出新」與「精益求精」的精神，對初版書中圖表與內容進行修正、調整章節結構，並持續推出SEM新知。新版仍維持十章，在第一?五章主要在章節調整及文意內容之更新，以強化本書的正確性與可讀性，第六章則為全新的SEM應用新知，而在第七?十章則在段落結構與內容上，有較大篇幅之更新。為了聚焦，第一版中第六章的二層次因素分析，已移往隨書光碟，供需要者自由讀取。
本書的內容，第一章介紹Amos的基本操作介面、繪圖工具、檔案連結方法與統計分析。第二章介紹模式隱含共變數矩陣的追蹤與推導。第三章介紹SEM理論模式的基本原理（含模式可辨識性及極小化過程）。第四章介紹適配度指標的選用與解釋。第五章介紹SEM量尺不確定性的處理方法及驗證性因素分析在測驗編製上的用途。第六章探究SEM應用上潛藏的困惑，更深入探討SEM應用上，重要的啟示與限制。第七章介紹如何利用Amos進行差異試題功能（DIF）分析，新增MACS取向與MIMIC取向之DIF分析流程圖及WinSteps DIF報表的分析。第八章介紹跨群組與跨時間之測量及結構不變性分析。第九章介紹因果關係類型及SEM取向的交叉延宕分析。第十章探索SEM多元共線性的症狀與其解決方法，新增SmartPLS與WarpPLS的應用介紹，以利檢驗預測變項間或預測變項與效標間的共線性。隨書附贈MLE極小化增益集與交叉延宕相關分析增益集，以方便讀者在SEM實務教學或研究上的應用。
為了讓讀者掌握各章之脈絡與主要學習要點，乃在各章節之前，提供了一些待答問題，以引導讀者從章節內容中找出答案。當這些前導問題都能正確回答之後，就可著手解析章節之末的習題了。另外，在各章節結束時，均提供結語一節，總結該章的重點與啟示，以溫故知新。
本書不僅是SEM初學者也是精進者的最佳寶典，內容深入淺出，除了新知之外，係筆者多年授業與解惑的結晶，它不僅將統計理論與Amos操作實務相結合，並化解與澄清許多研究生實務上常碰到的問題與迷思。筆者一向秉持著專業知能承先啟後之使命感，不問代價戮力以赴。倘仍有內容疏漏或偏誤之處，尚請國內外同好不吝指正。
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李茂能
2024年春於嘉義
